Aberrómetro Total de Alta Resolución Osiris
NOVEDAD

Osiris

Aberrómetro Total de Alta Resolución

Aberrómetro de alta resolución con tecnología Knive-Edge, capaz incluso de mostrar los anillos difractivos de una lente intraocular implantada. La combinación perfecta con Sirius para la evaluación exhaustiva del sistema óptico completo del ojo.

Descripción
  • El nuevo aberrómetro total de CSO permite conocer las aberraciones de todo el sistema óptico a partir de una simple captura.

    Se trata de un sistema de alta definición, capaz de visualizar incluso los anillos difractivos de una lente intraocular implantada. Esto es gracias a la tecnología Knive-Edge con sistema piramidal, con una resolución real de 41µm y hasta 45.000 puntos medidos.

    El procesamiento matemático para convertir los resultados en aberraciones es directo, por lo que el procesamiento es mucho más sencillo y rápido que con otras tecnologías. Tampoco existe problema de superposición de puntos en aberraciones altas, ya que se basa directamente en el reflejo de cuatro sub-pupilas.

    La sensibilidad es también mucho mayor, ya que no depende de la mínima distancia de desviación sino del nivel de gris capaz de ser interpretado por la cámara CCD, siendo de 4096 tonos diferentes.

    Gracias a la tecnología Knive-Edge es posible, de hecho, observar las imágenes de aberraciones en tiempo real, ya que no requieren de conversión o ajuste por Zernike.

    El software Phoenix permite realizar simulaciones de visión, corrección virtual con lentes de prueba, aislamiento de cada componente de Zernike, simulación de diferentes diámetros (máximo el de medida), mapas diferenciales y evolutivos o la obtención de los componentes internos si se aportan datos de topografía-aberrometría corneal (Sirius).

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